美國BH貝克休斯超聲波探頭

美國Bakerhughes貝克休斯超聲波探頭  （原德國Krautkrmer 原美國GE）

接觸式探頭傳感
接觸式直探頭-軟保護膜
接觸式直探頭-硬保護層
接觸式直探頭-帶延遲塊
接觸式直探頭-雙晶探頭
接觸式斜探頭-大晶片
接觸式斜探頭-小晶片
接觸式斜探頭-雙晶探頭

接觸式探頭，特殊應用探頭，相控陣探頭，水浸探頭浸入式傳感器

探頭傳感器配件
線纜和適配器
耦合劑
校準試塊

 

需求分析：

我們已經設計生產了超過一百萬個超聲探頭，包括14000個特殊應用探頭，我們具有非常豐富的設計與生產探頭經驗，我們會根據檢測應用需求選擇*佳的探頭設計方案。

 

生產標準：

為了確保每個探頭的質量，我們嚴格執行探頭生產規范和相應的標準

 

仿真設計：

在探頭*初設計階段，我們使用先進的仿真軟件仿真超聲聲場，優化探頭設計，同時我們對使用仿真軟件有非常豐富的經驗，非常了解仿真軟件的局限性，我們知道如何根據仿真結果優化設計與生產探頭。

 

應用測試：

我們在全球有應用中心，能夠在應用中心實驗室對各種復雜應用工件進行實驗測試，根據實驗測試效果研究出*佳檢測方案，你要做的只是將需檢測的工件寄給我們。

 

材料選擇和加工

我們在采購原材料時使用*高標準，并且我們的內部制造按照ISO標準進行控制。我們在愛爾蘭香農的工廠生產壓電復合陶瓷品片，能夠根據具體要求生產*佳壓電品征。

 

原型探頭

在充分了檢測需求之后，我們制作原型探頭，以進一步驗證該解決方案的有效性。

 

探頭測試

我們確保每個探頭的可重復性和穩定性，每個探頭在每一生產環節都根據標準規范嚴格測試，確保滿足技術規范要求。我們每個探頭都有序列號，記錄每個探頭的所有技術參數，并且生成測試報告保存于我們的數據庫中，我們提供探頭技術參數，包括每個探頭的探頭波形和頻譜結果，以及各技術參數的誤差范圍。

 

制造生產

我們能夠根據歐州標準和美國標準制造生產探頭，我們也可以根據各地的規范要求生產探頭，也可以根據檢測應用要求定制生產探頭，如修改探頭外殼設計、探頭接口，以及晶片尺寸和形狀，包括非標準頻率、靈敏度、帶寬和聚焦等性能。

 

配送

通過我們的全球分銷站點和客戶服務資源為您提供*佳配送方案，確保全程提供訂單狀態，直到探頭到達您的手中。

 

支持

我們的專家資源可幫助您應對各種具有挑戰性的超聲檢測應用需求，包括現場應用工程師和可以通過電話或電子郵件全天候與您聯系的遠程服務技術人員。我們的探頭提供一年標準質保期。

 

一般信息探頭基本類型

此產品目錄中的超聲探頭傳感器分為兩大類，即接觸式和水浸式入式。

用于接觸式檢測方法的探頭傳感器

 

直探頭-單晶

工件形狀規則，檢測面相對光滑

適用于平面或帶曲率接觸面

缺陷或底面與接觸面平行

用于檢測厚度較大的工件

延遲塊探頭能提高近表面分辨力

需要耦合劑

日常檢測常用探頭

 

直探頭直通波束 - 雙晶片 (TR)

通過隔聲層使發射與接收晶片獨立分開

缺陷或底面與接觸面平行

用于檢測厚度較小工件

需要耦合劑

日常檢測常用探頭

 

度波束斜探頭

斜探頭晶片與楔塊一體或可拆卸

橫波或縱波以特定角度入射

常用的斜探頭為橫波探頭

檢測與入射聲束垂直的缺陷

有單晶與雙晶斜探頭

需要耦合劑

有時用于掃查器或自動掃查

 

用于浸入式方法的傳感器

 

水浸探頭浸入式傳感器

通過水耦合達到*佳耦合效果

用于結構較規則工件

常用于自動檢測系統

耦合效果穩定一致，檢測結果可重復性好

可用于掃查架，噴水式檢測

可以通過聚焦提高靈敏度和分辨力

 

聚焦水浸探頭入式傳感器

點聚焦模式

線聚焦模式

 

聚焦優勢

提高對小缺陷的敏感檢測靈敏度

球面形（點）聚焦 圓柱面（線）聚焦

 

用于接觸式檢測方法的探頭傳感器直探頭-單晶

工件形狀規則，檢測面相對光滑

適用于平面或帶曲率接觸面

缺陷或底面與接觸面平行

用于檢測厚度較大的工件

 

 

 

傳感器探頭選擇標準 - 北美標準

根據美國標準制造的探頭，Baker Hughes Inspection

Technologies 提供三種系列探頭： Alpha、Benchmark， 和

Gamma 系列。 所有探頭均根據 ASTM E-1065標準進行測試，

測試報告提供波形和頻譜等相關信息。

建議用于對檢測分辨率有較高要求的檢測應用。

適用于對分辨力要求高的厚度測量和近表面缺陷檢測等應用。

脈沖非常短，達到目前探頭技術極限。

靈敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探頭。

帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 50％ 至 100％。

典型的 Alpha 波形（右圖）通常只有一到兩個完整的回波周期

 

Benchmark 系列探頭功能

晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 壓電復合材料。

對高衰減材料的穿透性遠優于傳統探頭。

對粗晶粒金屬材料、碳纖維增強復合材料檢測具有高信噪比。

回波脈沖短 - 分辨率通常優于 Gamma 系列。

靈敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探頭。

高帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 60％ 至 120％。

晶片低聲阻抗提高了斜探頭、延遲探頭和水浸探頭的性能，與塑料和水的聲阻抗匹配效果好。

 

Gamma 系列功能

常用探頭，適用于大多數日常檢測應用要求。

中脈沖、中阻尼 – 靈敏度和分辨率的優化組合。

電子匹配性能確保較高的檢測靈敏度，牲犧一定分辨力

中帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 30％ 至 50％。

典型的 Gamma 波形會顯示三到四個完整回波周期，取決于探頭頻率、探頭直徑和其他參數。